GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分

前? 言

GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 GB/T 2423.1是GB/T 2423棕準(zhǔn)的第1部分.GB/T 2423柝準(zhǔn)的俎成部分見賚料性附彖NA.本部分等同采用IEC 60068-2-1 ,2007《壞境斌驗(yàn)第2-1 部分。試驗(yàn)試驗(yàn) A:低溫)(英文版).本部分與IEC 60068-2-1 2007相比,主要做了下列蝓髯性修改s

-本部分的名稱改カ《屯工屯子戸品珎境式羲 第2部分。試殺方怯 武驗(yàn)A;低溫》;“本杯準(zhǔn)”一同改カ“本部分”,

一 刪除了IEC 60068-2-1 2007前言;

-刪除了IEC60068-2-1,2007引言,將其內(nèi)容特化カ増加的賚料性附彖NB的內(nèi)容,一増加了 資料性附?！癎B/T 2423柝準(zhǔn)的組成部分”(見附彖NA)

一-増加了資料性附粂“試臉Ar低溫和試驗(yàn)B。高溫的分炎代號(hào)小寫字母之甸的美系”(見附彖

NB) s

-劃除了第1章第1段中的“対于非敞熱試驗(yàn)祥品,”I– -第1章中最后両段的內(nèi)容移到4.1中;

-4. 3柝題“非斂熱試驗(yàn)祥品”改カ“非散熱試驗(yàn)祥品的試臉”;

-6.2最后一段原文カ正文,本部分改カ注。

カ清晰起見，上述慘改已在正文相座位置加了腳注.

本部分代替GB/T 2423. 12001《屯工屯子*品壞境武驗(yàn)第 2部分·試驗(yàn)方法武驗(yàn) A;低溫》，與之相比,主要変化如下，

-刪除了試臉Aa,非散熱試驗(yàn)祥品溫度突変的低溫式驗(yàn)I-刪除了附彖A.附桑B、附彖C、附彖D、附彖E,

-増加了式驗(yàn)Ae散熱試驗(yàn)祥品溫度漸変的低溫試驗(yàn)一試驗(yàn)祥品在整↑武驗(yàn)辻程通屯.本部分的附彖NA、附彖NBカ賚料性附彖.

本部分由全國屯工屯子品壞境條件與壞境試驗(yàn)怺準(zhǔn)化技木委員會(huì)(SAC/TC 8)提出并日ロ.本部分由廣州屯器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草。本部分主要起草人z張志勇.

本部分所代替柝準(zhǔn)的萬次版本爰布情況カ」

-GB/T 2423. 1一-1981、GB/T 2423. 1- -1989、GB/T 2423. l-2001.
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) A:低溫

1范圍
GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異”,增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。
本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力,在這種情況下,應(yīng)采用GB/T 2423. 22.
本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種:
-非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):●試驗(yàn)Ab,溫度漸變。散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):●試驗(yàn)Ad,溫度漸變;
●試驗(yàn) Ae,溫度漸變,試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。
本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品.

2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注期的引用文件 ,其最新版本適用于本部分。
GB/T 2421電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)第1 部分:總則(GB/T 2421- -1999 ,idt IEC 60068-1:1988)GB/T 2422電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(GB/T 2422- 1995,eqv IEC 60068-5-2: 1990)
GB/T 2423.22電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)第2 部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(GB/T 2423.22-2002 ,IEC 60068-2-14 :1984 ,IDT)
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)高 溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則(GB/T 2424. 1- -2005 , IEC 60068-3-1:1974 ,IDT)
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)高 溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則(GB/T 2424. 1- -2005, IEC 60068-3-1:1974,IDT)

GB/T 2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫 度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(GB/T 2424. 5- 2006, IEC 60068-3-5:2001 ,IDT)

GB/T 2424. 7電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn) A和試驗(yàn)B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量(GB/T 2424. 7- -2006 , IEC 60068-3-7: 2001 ,IDT)

IEC 60721(所有部分)環(huán)境條件分級(jí)

3術(shù)語和定義

GB/T 2422確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分。

1) IEC 60068-2-1:2007原文在句前有“對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品,”
3.1

工作空間低氣流速度low air velocity in the working space

指工作空間的調(diào)節(jié)氣流速度,能維持設(shè)定的條件,但也足夠低,以致試驗(yàn)樣品上任意點(diǎn)的溫度不會(huì)由于空氣循環(huán)的影響而降低5 K以上(如果可能,不大于0.5 m/s)。3.2

工作空間高氣流速度high air velocity in the working space

指工作空間的調(diào)節(jié)氣流速度,為了維持設(shè)定的條件,同時(shí)使得試驗(yàn)樣品上任意點(diǎn)的溫度由于空氣循環(huán)的影響而降低5 K以上。

4非散熱試驗(yàn)樣品與敗熱試驗(yàn)樣晶試驗(yàn)方法應(yīng)用對(duì)比

4.1 總則

溫度試驗(yàn)箱的制造和確認(rèn)按照GB/T 2424.5和GB/T 2424.7的規(guī)定進(jìn)行?！备邷睾偷蜏卦囼?yàn)導(dǎo)則見GB/T 2424. 1,總則見GB/T 2421.”

只有在以下情況下,才認(rèn)為試驗(yàn)樣品是做熱的:當(dāng)溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)(見GB/T 2421中相應(yīng)內(nèi)容),在自由空氣的條件下(例如,低氣流速度循環(huán))測(cè)量的試驗(yàn)樣品表面最熱點(diǎn)的溫度超過試驗(yàn)樣品周圍空氣溫度5K以上。當(dāng)相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行貯存或運(yùn)輸試驗(yàn).或未指定在試驗(yàn)期間施加負(fù)載,低溫試驗(yàn)Ab是適用的。

4.2工作空間是高 氣流速度或是低氣流速度的確定

在測(cè)量和試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下(見GB/T 2421),以及氣流速度<0.2 m/s,按照待試驗(yàn)的低溫條件下的規(guī)定給試驗(yàn)樣品通電或加電氣負(fù)載.

當(dāng)試驗(yàn)樣晶的溫度達(dá)到穩(wěn)定,應(yīng)使用合適的監(jiān)測(cè)裝暨測(cè)量試驗(yàn)樣品上或其周圍若干個(gè)有代表性的位置的溫度。之后,每一個(gè)位置的溫開應(yīng)予以記錄。

開啟試驗(yàn)箱的通風(fēng)裝量使空氣循環(huán).當(dāng)溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí),重新測(cè)量上述位置處的溫度。如果此次測(cè)得的溫度與上次無空氣流動(dòng)時(shí)測(cè)得的溫度相差超過5 K(或相關(guān)規(guī)范規(guī)定的其他值),應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中記錄這些溫度值,并且認(rèn)為該試驗(yàn)箱具有高氣流速度循環(huán)。然后給試驗(yàn)樣品斷電,并去掉任何負(fù)載條件.

4.3非 散熱試驗(yàn)樣晶的試驗(yàn)

在溫度漸變?cè)囼?yàn)Ab中,試驗(yàn)樣品放入處于試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中,然后慢慢降低試驗(yàn)箱中溫度，防止由于溫度改變而對(duì)試驗(yàn)樣品產(chǎn)生有害作用。建議采用高氣流速度循環(huán),因?yàn)檫@樣可以減少達(dá)到溫度穩(wěn)定所需要的時(shí)間。
4.4散熱試驗(yàn)樣晶 的試驗(yàn)”

試驗(yàn)Ad和試驗(yàn)Ae描述了散熱試驗(yàn)樣品在低氣流速度循環(huán)下的試驗(yàn)程序。這允許試驗(yàn)樣品的局部發(fā)熱點(diǎn)在其內(nèi)部擴(kuò)展的情況,類似于安裝后的產(chǎn)品在應(yīng)用中發(fā)生的情況。4.5溫度監(jiān)控

應(yīng)使用溫度傳感器來測(cè)量試驗(yàn)箱里的空氣溫度,溫度傳感器的位置離試驗(yàn)樣品的距高應(yīng)確保其受熱擴(kuò)散的影響可忽略不計(jì)。應(yīng)適當(dāng)注意以避免熱輻射影響這些測(cè)量,更多信息見GB/T 2424. 5.4.6 包裝

對(duì)于貯存和運(yùn)輸試驗(yàn),設(shè)備可以帶包裝進(jìn)行試驗(yàn)。然而,由于本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)是穩(wěn)態(tài)試驗(yàn)，設(shè)備最終將穩(wěn)定在試驗(yàn)箱溫度，所以,應(yīng)去掉包裝進(jìn)行試驗(yàn),除非相關(guān)規(guī)范要求帶包裝,或者發(fā)熱元件是

2)該段在IEC 60068-2-1 ,2007原文中位于第1章。3) 該段在IEC 6068-2-1 ,2007原文中位于第1章.4) TEC 60068-2-1:2007原文為“教勢(shì)試妝樣品”.
與包裝合為- -體的。4.7? 圖示
為了便于試驗(yàn)方法的選擇,圖1給出了幾種不同試驗(yàn)方法的圖示。

5試驗(yàn)描述

5.1 總則

試驗(yàn)Ab.試驗(yàn)Ad和試驗(yàn)Ae是相似的,差異見5.2.2.5.3.2和5.4.2,從第6章開始的其他部分是這些試驗(yàn)共同的。試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化速率不應(yīng)超過1 K/min(不超過5 min時(shí)間的平均值)。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定試驗(yàn)樣品試驗(yàn)時(shí)的功能要求。

應(yīng)注意試驗(yàn)樣品的任何冷卻裝置要符合相關(guān)規(guī)范的要求。5.2試驗(yàn) Ab:非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)5.2.1目的

本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行非散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn),試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。5.2.2概述

將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度。當(dāng)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。對(duì)于試驗(yàn)時(shí)需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品(即使它們不屬于散熱試驗(yàn)樣品),應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后通電,根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測(cè)。這種情況下,可能還需要–段時(shí)間達(dá)到溫度穩(wěn)定,然后試驗(yàn)樣品在該低溫條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時(shí)間.

試驗(yàn)樣品通常在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn).本試驗(yàn)通常采用高氣流速度循環(huán)。

5.3試驗(yàn)Ad:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)一試驗(yàn)樣品在溫度開始穩(wěn)定后通電5.3.1目的

本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn),試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。

5.3.2概述

如果需要,可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)箱能否滿足低氣流速度的要求。將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度。

給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時(shí))處于運(yùn)行狀態(tài).

當(dāng)試驗(yàn)樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴闢到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。本試驗(yàn)通常采用低氣流速度循環(huán)。

5.4試驗(yàn)Ae:散熱試驗(yàn)樣晶溫度漸變的低溫試驗(yàn)一試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電
5.4.1 目的

本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行傲熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn),試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定,并且要求試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程中通電.
5.4.2概述

如果衢要,可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)籍能否滿足低氣流速度的要求。將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中,給試驗(yàn)樣品通電并根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測(cè)(見5.4. 3)。

然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度。當(dāng)試驗(yàn)樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。

本試驗(yàn)通常采用低氣流速度循環(huán).
5.4.3給試驗(yàn)樣 品通電

然后給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載,檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時(shí))處于運(yùn)行狀態(tài)。

6試驗(yàn)程序

6.1性能確認(rèn)

GB/T2424.5給出了溫度試驗(yàn)箱的性能確認(rèn)指南。GB/T2424.1給出了試驗(yàn)A和試驗(yàn)B的一般操作指南.

與散熱試驗(yàn)樣品的尺寸和數(shù)量相比,試驗(yàn)箱應(yīng)該足夠大。
6.2工作空間

試驗(yàn)樣品應(yīng)能完全容納人試驗(yàn)箱的工作空間內(nèi)。

穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),流向試驗(yàn)樣品的空氣溫度應(yīng)處于試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)溫度的土2 K范圍內(nèi)。工作空間的空氣溫度應(yīng)按照4.5來測(cè)量。

注:當(dāng)由于試驗(yàn)箱尺寸的原因,不能維持上述容差時(shí),容差可以放寬，試驗(yàn)溫度大于等于-25 C時(shí)為土3 K:試驗(yàn)

溫度大于等于-65 C,但小于-25 C為士5K.當(dāng)采用了上述容差,則應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告中指明.”
6.3 熱輻射

應(yīng)盡可能限制試驗(yàn)樣品通過熱輻射方式傳熱的能力,這通常是采取遮擋試驗(yàn)樣品的發(fā)熱或冷卻元件，以及確保構(gòu)成試驗(yàn)籍內(nèi)壁各部件的溫度與調(diào)節(jié)空氣的溫度無明顯差異的方式來實(shí)現(xiàn)。6.4帶人工冷卻裝 的試驗(yàn)樣品

相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定試驗(yàn)樣品的冷卻介質(zhì)的特性。當(dāng)冷卻介質(zhì)是空氣時(shí),應(yīng)注意使空氣不受到污染,并保持足夠干燥,避免潮濕方面的問題。
6.5 安裝

試驗(yàn)樣品安裝和連接時(shí)的熱傳導(dǎo)和其他相關(guān)特性應(yīng)在有關(guān)規(guī)范中規(guī)定。當(dāng)試驗(yàn)樣品使用時(shí)是安裝在特定的裝置中時(shí)，在試驗(yàn)時(shí)應(yīng)使用這些裝置.
6.6尸酷等級(jí)
相美規(guī)范座規(guī)定由溫度和式驗(yàn)持綾吋同表示的試驗(yàn)門酷等級(jí)，戸酷等級(jí)座:a) 從6.6.1和6.6.2所給的數(shù)値中迭取;
b)從已知的珎境得出,如果垓壞境給出星著差昇的數(shù)値;)引自其他知名的相美數(shù)據(jù)源(例如IEC 60721).
6.6.1溫度
-65C·
-55C。
-50C。
-40C。
-33C。
-25c。
-20C
-10C
-5C·
+5C
6.6.2持縷肘 囘
· 2h
· 16h
·72h。
96h
當(dāng)本試驗(yàn)方法結(jié)合耐久性和可靠性相美的試驗(yàn)使用吋,座注意相美柝準(zhǔn)或規(guī)范給出的美于此奬試驗(yàn)持綾吋同的特定建爻。
6.7預(yù)処理
預(yù)理按相美規(guī)范的要求迸行。
6.8朷姶橙測(cè)
試驗(yàn)祥品的初始狀恣可通辻目祝橙査和(或)按相美規(guī)范要求迸行功能栓渕荻得.

6.9條件試驗(yàn)

試驗(yàn)樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。

對(duì)于試驗(yàn)樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的例外情況，試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品通電時(shí)開始計(jì)算的。典型地,這種情況是由那些具有長時(shí)間工作循環(huán)的樣品引起的。6.10 中間檢測(cè)

相關(guān)規(guī)范可能要求在條件試驗(yàn)中間或條件試驗(yàn)結(jié)束時(shí)(試驗(yàn)樣品仍在試驗(yàn)箱中)進(jìn)行加負(fù)載和(或)測(cè)量。如果要求進(jìn)行這種測(cè)量,相關(guān)規(guī)范應(yīng)對(duì)這種測(cè)量的內(nèi)容及時(shí)間間隔進(jìn)行規(guī)定。對(duì)于這種測(cè)量,試驗(yàn)樣品不應(yīng)移出試驗(yàn)箱。

注:如果要求知道某種試驗(yàn)樣品在規(guī)定的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間結(jié)束之前的性能,應(yīng)該為每-不同的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間準(zhǔn)備一

個(gè)單獨(dú)批次的試驗(yàn)樣品。每-批次的樣品應(yīng)單獨(dú)進(jìn)行恢復(fù)和最后檢測(cè)..6.11 最后的線性升溫

如果試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)期間保持在運(yùn)行狀態(tài)或負(fù)載條件下,應(yīng)在溫度上升前斷電或卸掉負(fù)載,但試驗(yàn)Ae除外,因?yàn)樵撛囼?yàn)要求試驗(yàn)樣品在整個(gè)恢復(fù)期間保持通電運(yùn)行狀態(tài)。

當(dāng)規(guī)定的試驗(yàn)持續(xù)期結(jié)束時(shí)，試驗(yàn)樣品應(yīng)保持在試驗(yàn)箱內(nèi),然后將溫度慢饅升至試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)條件的溫度偏差范圍內(nèi)。試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化應(yīng)不超過1 K/ min(不超過5 min時(shí)間的平均值)。

6.12 恢夐

武驗(yàn)祥品虛在拭臉箱內(nèi)経辻佚夏辻程或其他合透辻程.座采取臺(tái)透的歩驤按要求去除水滴，井不攪審試驗(yàn)祥品.

試驗(yàn)禪品在株準(zhǔn)壞境條件下迸行恢夏,恢夏吋同虛足使溫度込到穏定,至少1 h.如果相美規(guī)苞要求,試驗(yàn)祥品座在恢夏期同達(dá)綾通屯或加載并測(cè)暈.

如果,上述棕準(zhǔn)條件不透合待橙渕的試驗(yàn)祥品,相美規(guī)范可要求其他的恢夏條件.
6.13 最后檢測(cè)
應(yīng)對(duì)試臉祥品逃行目視橙査以及相美規(guī)菟要求的性能橙酬。

7相美規(guī)苑座蛤出的信息

當(dāng)相美規(guī)萢包含式驗(yàn)A,低溫吋,虛蛤出下列透用項(xiàng)目的錮芍·
a) 武驗(yàn)美型,
b)預(yù)赴理↓
c)初始橙測(cè)↓
d)安裝和支擇的詳細(xì)措述↓
e) 試臉祥品(包含冷卻系続〉在條件試驗(yàn)朔同的狀志,
f）嚴(yán)酷等級(jí)，即溫度和試致持鍵吋伺
g) 溫度変化速率,
h) 條件試臉期甸的測(cè)量和(或)加負(fù)載ii)恢夏(如果是非杯準(zhǔn)條件〉，
j〉 最后檢測(cè);
k) 供需雙方同意的対試臉程序的任何偏寓II〉不能茯得 低氣流速度肘（見4. 2)的溫度差昇.
8試驗(yàn)搬告中虛始出的信息
試臉扱告中虛至少給出下列信息·
a)客戸(名稱和地址〉·
b〉橙渕実驗(yàn)室(名稱和地址 ,如果有,胚包括合格人可的佯細(xì)信息)
c) 柆測(cè)日朔
d)試驗(yàn)類型(Ab,Ad,Ae)
e) 試驗(yàn)?zāi)康?開發(fā)、質(zhì)量鑒定等)1
d）試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),版本(注 日期對(duì)本部分的引用)，
g)相關(guān)試驗(yàn) 室檢測(cè)程序(代號(hào)和發(fā)行號(hào));
h)試驗(yàn)樣 品描述(工程圖、照片、數(shù)量、結(jié)構(gòu)、狀態(tài)等);
i)試驗(yàn)箱 標(biāo)識(shí)(制造商.型號(hào)、唯一性標(biāo)識(shí)符等)
j) 試驗(yàn)箱的性能(設(shè)定溫度點(diǎn)控制、氣流等);
k)氣流速度和方向(流向試驗(yàn)樣品的空氣流速和方向);
1)測(cè)量系統(tǒng)的不確定度;
m)校準(zhǔn)日 期(最近- -次校準(zhǔn)和下- -次應(yīng)校準(zhǔn)的日期):n)初始、 中間和最后檢測(cè);
o)要求的嚴(yán)酷等級(jí)(從試驗(yàn) 規(guī)范中);
p)試驗(yàn)的嚴(yán)酷 等級(jí)(測(cè)量點(diǎn)、數(shù)據(jù)等);
q)試驗(yàn)樣品的性能(功能檢測(cè)的結(jié)果等);
r)試驗(yàn) 期間的觀察結(jié)果及采取的措施;
s)試驗(yàn) 總結(jié);
t)? 分發(fā)。